物理學博士學位論文提綱

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物理學博士學位論文提綱

  物理學博士學位論文提綱範文一

摘要 4-6

Abstract 6-7

目錄 8-11

第1章 緒論 11-37

1.1 課題研究背景及意義 11-12

1.2 透明導電薄膜的分類及特性 12-20

1.2.1 單層透明導電薄膜 13-19

1.2.2 疊層透明導電薄膜 19-20

1.3 介面對疊層透明導電薄膜效能的影響 20-22

1.3.1 介面對疊層透明導電薄膜穩定性的影響 21-22

1.3.2 介面對疊層透明導電薄膜光電效能的影響 22

1.4 透明導電薄膜的應用 22-30

1.5 疊層透明導電薄膜的研究現狀 30-34

1.6 本論文的主要工作及創新點 34-37

第2章 新型高效能NiO/Ag/NiO疊層透明導電薄膜的製備及其在有機太陽能電池上的應用 37-65

2.1 引言 37-39

2.2 實驗方法 39-41

2.2.1 NAN疊層透明導電薄膜的製備與效能測試 39

2.2.2 以NAN和ITO為陽極的太陽能電池的製備方法與效能測試 39-41

2.3 結果與討論 41-51

2.3.1 NAN薄膜的光學效能 41-45

2.3.2 NAN薄膜的電學效能及其穩定性 45-48

2.3.3 NAN薄膜的表面形貌 48-49

2.3.4 NAN薄膜在有機太陽能電池中的應用 49-51

2.4 本章小結 51-52

2.5 引言 52-53

2.6 實驗方法 53-54

2.7 結果與討論 54-63

2.8 本章小結 63-65

第3章 疊層透明導電薄膜SnO_x/Ag/SnO_x的製備及其在有機太陽能電池中的應用 65-96

3.1 引言 65

3.2 實驗方法 65-67

3.2.1 SAS疊層透明導電薄膜的製備與效能測試 66

3.2.2 以SAS和ITO為陰極的太陽能電池的製備方法與效能測試 66-67

3.3 結果與討論 67-77

3.3.1 SAS薄膜的光學效能 67-70

3.3.2 SAS薄膜的電學效能 70-72

3.3.3 SAS薄膜的表面形貌 72-73

3.3.4 SAS薄膜在有機太陽能電池中的應用 73-77

3.4 本章小結 77-78

3.5 引言 78-79

3.6 實驗方法 79-80

3.6.1 Bi_2O_3介面層以及SASB電極的製備過程及測試方法 79-80

3.6.2 倒置太陽能電池的製備過程 80

3.7 結果與討論 80-92

3.7.1 Bi_O_3作為陰極介面層在有機太陽能電池中的.應用 80-82

3.7.2 SASB 薄膜的光電效能 82-84

3.7.3 SASB的表面形貌 84-86

3.7.4 低功函SASB電極在有機太陽能電池中的應用 86-92

3.8 本章小結 92-93

3.9 總結 93-94

3.10 展望 94-96

參考文獻 96-111

在學期間學術成果情況 111-112

指導教師及作者簡介 112-113

  物理學博士學位論文提綱範文二

摘要 5-7

Abstract 7-8

目錄 9-12

第1章 緒論 12-26

1.1 半導體鐳射器的研究進展 12-21

1.1.1 高功率半導體鐳射器 12-15

1.1.2 高效率半導體鐳射器 15

1.1.3 高可靠性半導體鐳射器 15-16

1.1.4 高光束質量半導體鐳射器 16-18

1.1.5 窄線寬半導體鐳射器 18-21

1.2 單縱模半導體鐳射器的研究進展 21-23

1.2.1 國外單縱模半導體鐳射器的研究進展 22-23

1.2.2 國內單縱模半導體鐳射器的研究進展 23

1.3 本文的研究目的與內容 23-26

第2章 高階光柵單縱模半導體鐳射器理論設計與分析 26-46

2.1 半導體鐳射器的基本特性 26-29

2.1.1 半導體的輻射躍遷 26-27

2.1.2 半導體鐳射器的增益與閾值條件 27-29

2.2 半導體鐳射器的輸出功率與轉換效率 29-31

2.2.1 半導體鐳射器的輸出功率 29-30

2.2.2 半導體鐳射器的轉化效率 30-31

2.3 半導體鐳射器的縱模與光譜特性 31-32

2.4 高階布拉格光柵波導的理論模型 32-38

2.4.1 分佈反饋(DFB)鐳射器和分佈布拉格反射(DBR)鐳射器 32-33

2.4.2 散射理論 33-36

2.4.3 傳輸矩陣理論模型 36-38

2.5 高階布拉格光柵波導的光學特性分析 38-42

2.5.1 傳輸矩陣分析 38-40

2.5.2 高階布拉格光柵的損耗光譜 40-42

2.6 單縱模鐳射器的空間相干性分析 42-45

2.6.1 部分相干光定理 42-43

2.6.2 相干度理論計算方法 43-45

2.7 本章小結 45-46

第3章 高階光柵單縱模半導體鐳射器製備 46-68

3.1 外延生長技術 46-47

3.2 光刻技術 47-52

3.3 刻蝕技術 52-61

3.3.1 幹法刻蝕 52-55

3.3.2 SiO2和GaAs刻蝕工藝探索 55-59

3.3.3 溼法腐蝕 59-61

3.4 薄膜生長技術 61-65

3.4.1 電絕緣膜生長技術 62

3.4.2 金屬電極生長技術 62-64

3.4.3 光學薄膜生長技術 64-65

3.5 高階光柵半導體鐳射器的製備 65-66

3.6 本章小結 66-68

第4章 高階光柵分佈布拉格反射半導體鐳射器 68-94

4.1 高階光柵單縱模分佈布拉格反射半導體鐳射器 68-81

4.1.1 器件結構設計 68-76

4.1.2 器件製備 76-77

4.1.3 器件測量結果 77-81

4.2 雙波長高階光柵分佈布拉格發射鐳射器 81-86

4.2.1 器件設計 81-83

4.2.2 器件製備 83-84

4.2.3 器件測量結果 84-86

4.3 高階光柵耦合半導體鐳射器可靠性分析 86-92

4.3.1 拉曼光譜分析技術原理 87-88

4.3.2 測試結果與分析 88-92

4.4 本章小結 92-94

第5章 高階光柵單縱模分佈反饋半導體鐳射器 94-100

5.1 器件製備 94-96

5.2 器件測量結果 96-99

5.3 本章小結 99-100

第6章 單縱模半導體鐳射器件空間相干特性的研究 100-116

6.1 VCSEL單管器件空間相干性研究 100-107

6.1.1 部分相干光理論 101-103

6.1.2 測試結果 103-107

6.2 VCSEL列陣器件的空間相干特性研究 107-114

6.2.1 器件設計 107-110

6.2.2 器件製備 110

6.2.3 測試結果 110-114

6.3 本章小結 114-116

第7章 總結與展望 116-118

參考文獻 118-132