【 摘 要 】
隨著積體電路製造技術的發展，基於固定型故障模型的電壓測試技術越來越不能滿足高效能積體電路的需求。為了降低測試成本並且提高積體電路的`可靠性，電流測試應運而生。電流測試技術包括穩態電流測試(IDDQTesting)、瞬態電流測試(IDDTTesting)兩種方法。穩態電流測試目前已經實用化，而瞬態電流測試由於其對測試裝置要求苛刻和其他1些技術問題仍處於研究階段。針對瞬態電流測試過於依賴測試裝置的現狀，中科院閔應驊教授提出了基於瞬態電流的全速電流測試方法(IDDATesting)。全速電流測試的可行性已在模擬實驗中得到了驗證，現在需要實測實驗的支援。 微處理器是1種較為特殊的電路，它可不需要外加激勵而依靠程式儲存器自行運轉。若以程式作為測試激勵，用全速電流測試方法檢測微處理器，實驗過程將非常容易實現。本文針對微處理器的特點，提出了指令級全速電流測試方法。希望以AT89C51微處理器為例，通過實驗說明用全速電流測試進行微處理器測試是可行的。AT89C51的指令級測試以彙編測試程式作為測試激勵，實驗中通過對AT89C51的詳細分析，確定了針對通路的測試策略，並給出了測試程式產生方法。測試時，我們讓微處理器重複執行選定的測試程式，用普通的萬用數字電流表測量微處理器消耗的平均電流。實驗結果表明，用全速電流測試在指令級對AT89C51微處理器進行測試是可行的，通過測試所有的資料通路，不僅可以檢測資料通路的故障，而且可以檢測由於控制錯誤而引起的資料傳送錯誤。
【文摘語種】 中文文摘
【論文頁數】 1-51
